ePass - der neue biometrische Reisepass
5. Vorbehalte gegen den ePass
Allgemein gilt, dass RF-Chips – je nach Bauart – durch Knicken
beschädigt werden können
[BSI 2004, S.45]. Auch Dipl.-Ing. Jan
Krissler vom Fraunhofer Institut Berlin meint auf den ePass bezogen,
dass „Häufiges Knicken […] der Verbindung zwischen Chip und
Antenne garantiert schaden“ wird [KRISSLER 2005]. Die ICAO hält
das Biegen und Knicken des ePasses ebenfalls für eine realistische
Gefährdung und empfiehlt, den ePass an den kritischen Stellen mit
einem steifen nicht-metallischen Material zu verstärken [ICAO
2004b S.21]. Die Vermutung liegt nahe, dass Bundesregierung und
Bundesdruckerei dieser Empfehlung nachkommen und die Haltbar-
keit des ePasses auch langfristig als gewährleistet betrachten. Dies-
bezügliche Anfragen per Email an die Bundesdruckerei, das Innen-
ministerium und das BSI brachten jedoch keine Antworten hervor.
Da RF-Chips als resistent gegen Schmutz gelten [BSI 2004a], ist
davon auszugehen, dass dieser Faktor keinen störenden Einfluss ha-
ben wird.
Inwieweit normale Alterungsprozesse die Funktionsfähigkeit des RF-
Chips innerhalb von 10 Jahren beeinträchtigen, ist unklar. So handelt
es sich bei dem RF-Chip um ein elektromagnetisches Speichermedi-
um. Auf diesen Speichermedien lassen sich nicht unbegrenzt lange
Daten speichern. Die ICAO spricht von einer normalen Haltbarkeits-
erwartung bei RF-Chips und Smartcards von 2 bis 3 Jahren [ICAO
2004d S.47]. Laut einer Pressemitteilung von Philips sind die im
ePass verwendeten RF-Chips „extrem zuverlässig“ und „die Daten
bleiben deutlich länger als bei branchenweit üblichen Anforderungen
erhalten“ [PHILIPS 2005b]. Die ICAO macht diesbezüglich unklare
Aussagen. In [ICAO 2004d S.47] spricht sie davon, dass es ungewiss
sei, ob RF-Chips nach 5 bis 10 Jahren noch zuverlässig arbeiten
 |
 |
 |
 |